Training Test und Design-for-Test für digitale integrierte Schaltungen

Integrierte Schaltkreise (ICs) sind integraler Bestandteil jedes elektronischen Systems, das wir heute sehen. Während die fortlaufende Skalierung der Transistorgrößen die Chipdichte erhöht, nimmt die Komplexität der neuen Generationen von VLSI-Chips zu; wir haben bereits den Punkt erreicht, an dem Milliarden von Transistoren auf einem einzigen Chip integriert sind. Die Entwicklung, das Design und die Herstellung solcher Chips sind nicht nur sehr kompliziert und zeitaufwändig, sondern auch anfällig für Fehler, die auf verschiedene Mängel im ursprünglichen Silizium und im Herstellungsprozess zurückzuführen sein können. Um die Zufriedenheit der Kunden zu gewährleisten, müssen Halbleiterunternehmen die erforderliche Produktqualität und Zuverlässigkeit der hergestellten Chips durch Tests sicherstellen (z.B. auf Wafer-Ebene und nach dem Packaging). Darüber hinaus hat sich gezeigt, dass die Bewältigung von Problemen im Zusammenhang mit dem Testen von VLSI-Chips in früheren Entwicklungsstadien die Testkosten erheblich senkt. Daher ist es für Hardwareentwickler wichtig, sich mit Konzepten für VLSI-Tests vertraut zu machen, die ihnen helfen, bessere Produkte zu geringeren Kosten zu entwickeln. Die Entwicklung geeigneter Tests ist daher von entscheidender Bedeutung, nicht nur um die Kundenzufriedenheit zu gewährleisten, sondern auch um die Testkosten zu optimieren.

Dieser Kurs deckt die Grundlagen des IC-Tests und des Design-for-Test ab; er führt den Teilnehmer in den Bereich des Testens digitaler Systeme und die damit verbundenen Aspekte ein. Der Teilnehmer lernt, dass zur Sicherstellung der Kundenzufriedenheit geeignete Gegenmaßnahmen ergriffen werden müssen, und zwar sowohl während der Designphase (d.h. als Teil des Designs), als auch nach der Fertigung und sogar im Feld/ während der Lebensdauer der Anwendung (d.h. kontinuierliche Überwachung und Handeln bei Bedarf). In dem Kurs lernen die Teilnehmer, wie sie sicherstellen können, dass ein Chip, der aus Milliarden von Transistoren und Verbindungen bestehen kann, z.B. in weniger als einer Sekunde getestet werden kann, wie sie sicherstellen können, dass die Lebensdauer des Chips 10 Jahre und nicht nur 2 Jahre beträgt, usw. Zu den behandelten Themen gehören: Bedeutung des VLSI-Tests, Testverfahren und automatische Testgeräte (ATE), Defekte und Fehlermodellierung, Fehlersimulation, Messungen der Testbarkeit, Testen von kombinierten Schaltungen, Testen von sequentiellen Schaltungen, Speichertests, Design für Testbarkeit, Scan-Design, Boundary Scan, Built-in-Self-Test, Verzögerungstest, Stromtests, IC-Zuverlässigkeit, usw.

Der Referent dieses Kurses ist ein weltweit anerkannter Redner auf diesem Gebiet mit umfassender wissenschaftlicher und industrieller Erfahrung. Der Referent hat sein Kursmaterial auf vielen internationalen Konferenzen sowie bei führenden Halbleiterunternehmen (in Asien, USA und Europa) vorgestellt.

Diese Schulung ist sowohl als offene Schulung als auch als firmeninterne Schulung verfügbar. Für die Schulung in Ihrem Unternehmen kann das Training an Ihre Situation und Ihre speziellen Bedürfnisse angepasst werden.