Training Test en ontwerp-voor-test voor digitale geïntegreerde schakelingen

Geïntegreerde schakelingen (IC's) zijn een integraal onderdeel van elk elektronicasysteem dat we tegenkomen. Terwijl de voortdurende schaalvergroting van transistorkenmerken de chipdichtheid heeft verbeterd, is de complexiteit van nieuwe generaties VLSI-chips toegenomen; we hebben al het punt bereikt waarop miljarden transistors op een enkele chip zijn geïntegreerd. De ontwikkeling, het ontwerp en de fabricage van dergelijke chips zijn niet alleen erg ingewikkeld en tijdrovend, maar ook vatbaar voor defecten; deze kunnen te wijten zijn aan verschillende gebreken in het originele silicium en in het fabricageproces. Om de klanttevredenheid te garanderen, moeten halfgeleiderbedrijven de vereiste productkwaliteit en betrouwbaarheid van de geproduceerde chips garanderen door ze te testen (bv. op waferniveau en na het verpakken). Bovendien is aangetoond dat het aanpakken van problemen bij het testen van VLSI-chips in een vroeger ontwerpstadium de testkosten aanzienlijk verlaagt. Het is dus belangrijk dat hardwareontwerpers kennismaken met concepten van VLSI-testen die hen kunnen helpen betere producten te ontwerpen tegen lagere kosten. Daarom is de juiste testontwikkeling van groot belang, niet alleen om de klanttevredenheid te garanderen, maar ook om de testkosten te optimaliseren.

Deze cursus behandelt de grondbeginselen van IC-testen en Design-for-Test; de deelnemer maakt kennis met het testen van digitale systemen en aanverwante aspecten. De deelnemer leert dat om klanttevredenheid te garanderen passende tegenmaatregelen moeten worden genomen, zowel tijdens de ontwerpfase (d.w.z. als onderdeel van het ontwerp), maar ook na de fabricage, en zelfs in het veld/ gedurende de levensduur van de toepassing (d.w.z. blijven controleren en ingrijpen wanneer nodig). Tijdens de cursus leert de deelnemer hoe te garanderen dat een chip die uit miljarden transistors en verbindingen kan bestaan, getest kan worden in bijvoorbeeld minder dan een seconde, hoe ervoor te zorgen dat de levensduur van de chip 10 jaar is in plaats van 2 jaar, enz. Onderwerpen die aan bod komen zijn onder andere: belang van VLSI-testen, testproces en automatische testapparatuur (ATE), defecten en foutmodellering, foutsimulatie, testbaarheidsmetingen, testen van combinatorische circuits, sequentiële circuits, geheugentesten, ontwerp voor testbaarheid, scanontwerp, grensvlakscan, ingebouwde zelftest, vertragingstest, stroomtests, IC-betrouwbaarheid, enz.

De presentator van deze cursus is een wereldberoemde spreker op dit gebied met een brede wetenschappelijke en industriële ervaring. De spreker heeft zijn cursusmateriaal gepresenteerd op vele internationale conferenties en bij toonaangevende halfgeleiderbedrijven (in Azië, de VS en Europa).

Deze training is zowel beschikbaar voor open inschrijving als voor in-company sessies. Voor in-company sessies kan de training worden aangepast aan uw situatie en speciale behoeften.