Stephen Sunter ist seit 30 Jahren Engineering Director für Mixed-Signal DfT, zunächst bei LogicVision, dann bei Mentor und jetzt bei Siemens EDA. Davor war er Manager für Mixed-Signal Test Engineering, Manager für Cell Library Development und Mixed-Signal IC Designer, allesamt bei Nortel, beginnend im Jahr 1977.
Seit 1999 hält er auf der International Test Conference (ITC) das am längsten laufende Tutorial „Mixed-Signal DfT: Challenges and Solutions“ (Mixed-Signal DfT: Herausforderungen und Lösungen) in ganztägigen und dann halbtägigen Formaten, wobei er den Inhalt ständig aktualisiert, um die neuesten Entwicklungen zu verfolgen.
Er hat etwa 70 Vorträge gehalten bzw. veröffentlicht, 7 Artikel in Fachzeitschriften und 4 Buchkapitel zu diesem Thema. Fünf seiner Arbeiten wurden auf der ITC ausgezeichnet, die meisten für einen Erstautor.
Er war Mitglied jeder IEEE Standard Working Group, die sich mit Mixed-Signal DFT befasst (1149.4, .6, .8, .10), er war Vorsitzender der P2427 Working Group und ist weiterhin Vorsitzender der P1687.2 Working Group. Er ist bzw. war ein langjähriges Mitglied der meisten Programmkomitees der IEEE-Testkonferenzen, darunter ITC, VTS, ETS, IMSTW, DATE und TVHSAC, und ist ein Life Senior Member von IEEE.
Im Jahr 2024 erhielt er auf der International Test Conference in San Diego den renommierten Bob Madge Innovation Award. Diese Auszeichnung würdigt „Innovationen, die von Bedeutung sind“ in den Bereichen Halbleiterdesign, Test und Datenanalyse. Als Experte auf seinem Gebiet war Steve maßgeblich an der Entwicklung des ersten kommerziell erfolgreichen analogen Defektsimulators beteiligt.
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