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Die Teilnehmer erhalten ein Kurszertifikat des High Tech Institute für die Teilnahme an dieser Schulung.
Objektiv
Integrierte Schaltungen (ICs) werden in einer langen Abfolge von hochpräzisen und daher fehleranfälligen Verarbeitungsschritten hergestellt. Jeder IC muss strenge elektrische Tests durchlaufen, um fehlerhafte Teile auszusortieren und dem Kunden die Qualität des Ausgangsprodukts zu garantieren. Der Bereich 'Design-for-Test' (DfT) konzentriert sich im weitesten Sinne auf die Entwicklung wirtschaftlich angemessener Tests für ICs. Die Tests müssen eine ausreichende Qualität zu akzeptablen Testkosten gewährleisten, die dem Zielanwendungsbereich entsprechen (z.B. haben drahtlose Verbraucherprodukte weniger strenge Qualitätsanforderungen, aber auch andere Testkostenbudgets als medizinische oder Luft- und Raumfahrtprodukte).
Analoge und Mixed-Signal-ICs (A/MS) erfordern andere Tester als digitale ICs und auch andere DfT-Techniken, Messungen der Testqualität, Fehlersimulationen und Testprogramme. Bis vor kurzem gab es nur sehr wenig Automatisierung, um diesen Unterschieden gerecht zu werden. Das lag vor allem an der mangelnden Standardisierung bei der Definition von analogen Fehlern und Defekten, der Messung des Abdeckungsgrads eines Tests, dem Testzugang zu ICs und der DfT-Schaltung. In diesem Kurs werden die Prinzipien der praktischen A/MS-DfT und -Tests sowie die bevorstehenden IEEE-Standards vermittelt, die jetzt systematische Lösungen und schließlich eine weitaus stärkere Automatisierung ermöglichen.
Dieser Kurs wird von einem weltweit anerkannten Referenten auf diesem Gebiet mit umfassender wissenschaftlicher und industrieller Erfahrung gehalten: Stephen Sunter, Engineering Director für Mixed Signal DfT bei Siemens EDA.
Sein Kurs zeichnet sich durch die Tatsache aus, dass:
- Es ist äußerst praktisch: Es kombiniert spezifikationsbasierte und strukturelle Tests für Herstellungsfehler und funktionale Sicherheit;
- es hat einen Schwerpunkt auf Industriestandards: aktuelle Details zu IEEE 2427 (Fehlerabdeckung) und P1687.2 (analoge IJTAG);
- er wird von jemandem unterrichtet, der seit fast 50 Jahren im Bereich A/MS-Design, -Test und -DfT arbeitet und Vorsitzender oder stellvertretender Vorsitzender der drei IEEE-Arbeitsgruppen für A/MS-DfT-Standards war.
Diese Schulung ist sowohl als offener Kurs als auch als firmeninterner Kurs verfügbar. Für die Schulung in Ihrem Unternehmen kann das Training an Ihre spezielle Situation und Ihre Anforderungen angepasst werden.
Zielgruppe
Das Vortragstempo lässt durchgehend Zeit für detaillierte Fragen zu praktischen Analog-/Mixed-Signal-Tests und DfT-Herausforderungen. Kursmaterial: Vorlesungsskript.
Programm
Nach dem Kurs wird der Teilnehmer:
- die Trends und Herausforderungen bei der Prüfung auf Herstellungsfehler im gesamten IC-Produktentstehungsprozess zu verstehen;
- die vorherrschenden IC-Fehlerarten (Kurzschlüsse, Unterbrechungen, parametrische Fehler) und die dazugehörigen Simulationsmodelle kennen;
- die Rolle der Simulation bei der Fehlermodellierung kennen und wissen, wie die Fehlerabdeckung in einer praktischen Zeitspanne gemessen werden kann;
- die Anforderungen der IEEE 2427 für die Meldung der Fehlerabdeckung kennen;
- die Grundlagen der Messung von ISO 26262-Metriken für funktionale Sicherheit verstehen;
- kennen Techniken, die den analogen Teil eines ICs besser testbar machen: Testzugriffsports, analoge Testbusse, Rekonfiguration, serielle Schieberegister zur Übertragung von Steuerung und Ergebnissen, Mixed-Signal-Wrapper, Wiederverwendung von On-Chip-Ressourcen und Built-In Self-Test (BIST);
- wissen, wie man Mixed-Signal-Testzugänge und Tests gemäß IEEE P1687.2 beschreibt;
- das Konzept der automatisierten Testprogrammerstellung aus einer generischen Mixed-Signal-Testsprache kennen;
- in der Lage sein, eine begründete Auswahl aus den verfügbaren Design-for-Test (DfT)-Techniken für Spezifikations- und Strukturtests zu treffen.
Methoden
Zertifizierung
Voraussichtlich Juni 2026
Kurs-Bewertungen
Dieser Kurs richtet sich an alle, die sich mit DfT und dem Test von A/MS ICs beschäftigen: Entwicklungsingenieure für analoge und Mixed-Signal-ICs, Test- und Produktingenieure und DfT-Ingenieure. Außerdem: Testforscher, Entwickler von Testmethoden, Entwickler von Testwerkzeugen und deren Manager! Erforderliches Hintergrundwissen:- Bildungsniveau: Fachhochschule / Universität in Elektrotechnik oder Informatik;- Vertrautheit mit dem Design, der Herstellung und dem Testen von analogen ICs und damit verbundenen Statistiken;- Empfohlen: mehrere Jahre industrielle Praxis.
Dieser Kurs richtet sich an alle, die sich mit DfT und dem Test von A/MS ICs beschäftigen: Entwicklungsingenieure für analoge und Mixed - Signal"Die wichtigsten Dinge, die ich gelernt habe: Verschiedene IEEE-Spezifikationen, wie man mit der Abdeckung umgeht und verschiedene Testtechniken."
Marwin van de Hoeve - Nexperia
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