Analoog / Mixed Signal Test en Design-for-Test voor geïntegreerde schakelingen-training

Geïntegreerde schakelingen (IC's) worden gefabriceerd door middel van een lange reeks zeer nauwkeurige en dus foutgevoelige processtappen. Elk IC moet strenge elektrische tests ondergaan om defecte onderdelen te verwijderen en de klant de kwaliteit van het uitgaande product te garanderen. Het gebied van 'Design-for-Test' (DfT) richt zich in brede zin op het ontwikkelen van economisch adequate tests voor IC's. De tests moeten voldoende kwaliteit garanderen tegen aanvaardbare kosten. De tests moeten voldoende kwaliteit garanderen tegen aanvaardbare testkosten, die overeenkomen met het beoogde toepassingsgebied (draadloze consumentenproducten hebben bijvoorbeeld minder strenge kwaliteitseisen, maar ook andere testkostenbudgetten dan medische of ruimtevaartproducten).

Analoge en mixed-signal (A/MS) IC's vereisen andere testers dan digitale IC's, evenals andere DfT-technieken, metingen van testkwaliteit, foutsimulatie en testprogramma's. Tot voor kort was er weinig automatisering om deze verschillen aan te pakken. Tot voor kort was er weinig automatisering om deze verschillen aan te pakken, voornamelijk door een gebrek aan standaardisatie bij het definiëren van analoge fouten en defecten, het meten van de dekking van een test, testtoegang tot IC's en DfT-schakelingen. Deze cursus leert de principes van praktische A/MS DfT en testen, en de op handen zijnde IEEE standaarden die nu systematische oplossingen en uiteindelijk veel meer automatisering mogelijk maken.

Deze cursus wordt gepresenteerd door een wereldberoemde spreker op dit gebied met brede wetenschappelijke en industriële ervaring: Stephen Sunter, Engineering Director voor Mixed Signal DfT bij Siemens EDA.

Zijn cursus onderscheidt zich doordat:

- het is zeer praktisch: het combineert specificatiegebaseerde en structurele tests voor fabricagefouten en functionele veiligheid;

- het heeft een focus op industriestandaarden: up-to-date details over IEEE 2427 (defectdekking) en P1687.2 (analoge IJTAG);

- het wordt gegeven door iemand die bijna 50 jaar heeft gewerkt in A/MS ontwerp, testen en DfT en voorzitter of vice-voorzitter is geweest van de drie IEEE werkgroepen voor A/MS DfT normen.

Deze training is zowel beschikbaar voor open inschrijving als voor in-company sessies. Voor in-company sessies kan de training worden aangepast aan uw specifieke situatie en vereisten.