Analog/mixed-signal test and Design-for-Test for integrated circuits

De cursus wordt in het Engels verzorgd onder de titel "Analog / Mixed-Signal Test and Design-for-Test for Integrated Circuits".

Geïntegreerde schakelingen (IC's) worden gefabriceerd door middel van een lange reeks zeer nauwkeurige en dus foutgevoelige processtappen. Elk IC moet strenge elektrische tests ondergaan om defecte onderdelen te verwijderen en de klant de kwaliteit van het uitgaande product te garanderen. Het domain van 'Design-for-Test' (DfT) richt zich in brede zin op het ontwikkelen van economisch adequate tests voor IC's. De tests moeten voldoende kwaliteit garanderen tegen aanvaardbare kosten. Ze moeten voldoende kwaliteit garanderen tegen aanvaardbare kosten, overeenkomstig het beoogde toepassingsgebied (draadloze consumentenproducten hebben bijvoorbeeld minder strenge kwaliteitseisen, maar ook andere testbudgetten dan medische of ruimtevaartproducten).

Analoge en mixed-signal IC's vereisen andere testers dan digitale IC's, evenals andere DfT-technieken, metingen van testkwaliteit, foutsimulatie en testprogramma's. Tot voor kort was er weinig automatisering om om te gaan met deze verschillen, voornamelijk door een gebrek aan standaardisatie bij het definiëren van analoge fouten en defecten, het meten van de testdekking, testtoegang tot IC's en DfT-schakelingen. Deze cursus leert de principes van praktische analog/mixed-signal DfT en tests, en de op handen zijnde IEEE-standaarden die systematische oplossingen en uiteindelijk veel meer automatisering mogelijk maken.

Deze cursus wordt gepresenteerd door een wereldberoemde spreker op dit gebied met brede wetenschappelijke en industriële ervaring: Stephen Sunter, engineering director voor mixed-signal DfT bij Siemens EDA.

Zijn cursus onderscheidt zich door:

- de zeer praktische insteek, die specificatiegebaseerde en structurele tests voor fabricagefouten combineert met functionele veiligheid;

- de focus op industriestandaarden: up-to-date details over IEEE 2427 (defectdekking) en P1687.2 (analoge IJTAG);

- de trainer, die bijna 50 jaar heeft gewerkt in analog/mixed-signal ontwerp, testen en DfT en voorzitter of vice-voorzitter is geweest van de drie IEEE-werkgroepen voor analoge/mixed-signal DfT-normen.

Deze training is zowel beschikbaar voor open inschrijving als voor in-company sessies. Voor in-company sessies kan de training worden aangepast aan jouw specifieke situatie en vereisten.