Die Teilnehmer erhalten durch Vorträge, Videos und Live-Demonstrationen von Sensoren und Messgeräten in Kombination mit Einzel- und Gruppenaufgaben einen Mix aus konzeptionellem Hintergrund, Do's and Don'ts und praktischen Einblicken.
Dieser Kurs konzentriert sich auf die verschiedenen Aspekte im Zusammenhang mit der Metrologie und Kalibrierung von Präzisionsmodulen/-systemen. Die Teilnehmer erhalten theoretische Hintergründe und praktische Einblicke einschließlich der Do's & Don'ts - sowohl auf der Ebene des Systemdesigns als auch auf der Ebene der Detailkonstruktion - im Zusammenhang mit der Metrologie und Kalibrierung, die für die erfolgreiche Entwicklung und Herstellung von Präzisionsmodulen/-systemen unerlässlich sind.
Diese Schulung ist sowohl für offene Einschreibungen als auch für firmeninterne Sitzungen verfügbar.
Objektiv
Nach Abschluss des Kurses verstehen die Teilnehmer die grundlegenden Aspekte, Risiken und Konzepte im Zusammenhang mit Metrologie und Kalibrierung und sind in der Lage, Lösungen und Auswirkungen auf Systemebene zu beurteilen.
Zielgruppe
Dieser Kurs richtet sich an Mechatronik-Konstrukteure, Systemingenieure und Architekten, die an der multidisziplinären Entwicklung von präzisen Bewegungsmodulen/-systemen beteiligt sind, bei denen Messtechnik und Kalibrierung eine wichtige Rolle für die Gesamtgenauigkeit des Systems spielen.
Voraussetzungen: Technische Ausbildung (BSc oder höher), mit mindestens zwei Jahren Erfahrung und vorzugsweise Abschluss des Kurses "Mechatronics system design" (Metron1&2) oder des ehemaligen Philips-CTT Kurses Metron.
Der Kurs zieht Teilnehmer aus den Niederlanden und aus dem Ausland an, wodurch eine internationale Atmosphäre entsteht, die einen wertvollen Wissensaustausch fördert. Wenn Sie von außerhalb des Landes anreisen, finden Sie hier nützliche Reiseinformationen.
Programm
Tag 1
Einführung: Definitionen der Metrologie
- SI-System und Rückverfolgbarkeit
- Definitionen (Wiederholbarkeit, Reproduzierbarkeit, Unsicherheit usw.)
- Komponenten eines Messsystems
Sensoren mit kurzer Reichweite
- Terminologie der Sensoren (Reichweite, Auflösung, Empfindlichkeit usw.)
- Sensortypen (kapazitiv, induktiv, optisch usw.)
Sensoren mit großer Reichweite
- Verschiebungsinterferometrie (Prinzip, Komponenten, Fehlerquellen usw.)
- Encoder (Theorie, verschiedene Typen)
Tag 2
Einführung in den Fall
- Messmaschine für Freiform-Optik
- Der Fall wird während des Kurses verwendet und entwickelt
- Analyse der bestehenden Lösungen
- Leistungsabschätzung (Berechnung der Unsicherheit)
Mechatronischer Kontext
- Zusammenfassung der Kontrolltheorie
- Einfluss der Sensoreigenschaften
- Einfluss der Sensorplatzierung
- Korrekturen anwenden
Metrologie auf Systemebene
- Designprinzipien für geringe Unsicherheit
- Fehlerarten
- Regeln von Abbe und Bryan
- System-Schleifen
- Wichtige Menge
- Grundlagen der Fehlerbudgetierung
Tag 3
System-Kalibrierung
- Terminologie der Kalibrierung
- Kalibrierungsinstrumente & Artefakte
- Selbstkalibrierung und Umkehrtechniken
- Anwendungsbeispiele
- Verwendung von Kalibrierungsdaten
Maschinelles Sehen: Gehäuse SMT-System
- Vision Metrologie
- Kalibrierung von Serienprodukten
- Datenlogistik für Feld-Ersatzgeräte
Methoden
Zertifizierung
Dieser Kurs ist von der European Society for Precision Engineering & Nanotechnology(euspen) und der Dutch Society for Precision Engineering(DSPE) zertifiziert und führt zum ECP2-Zertifikat.
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